學分數 |
3
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修課時數 |
3
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開課班級 |
日間部四年制3年級 A班
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本課程培養學生下列知識: |
本課程的主要目的要讓學習者瞭解積體電路測試設備的特性與種類、基本操作原理,包含以下內容:測試系統簡介、基本測試電路、測試機結構及商用測試系統、分類機、針測機與測試治具介紹。1.測試系統簡介2.類比IC測試機結構及商用測試系統3.數位IC測試機結構及商用測試系統4.記憶體IC測試機結構及商用測試系統5.混合訊號IC測試機結構及商用測試系統6.分類機、針測機與測試治具Course objective is to provide students with a comprehensive understanding of IC test equipments. The course outline is as follows: test system introduction, basic test circuits, tester architecture, commercial tester, handlers, probers, and test tools.
1.Introduction to ATE
2.Structure of Analog Tester and Commercial Testers
3.Structure of Digital Tester and Commercial Testers
4.Structure of Memory Tester and Commercial Testers
5.Structure of Mixed-Signal Tester and Commercial Testers
6.Introduction to Handler, Prober and Test Fixture
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每週授課主題 |
第01週:課程與測試系統簡介第02週:IC 封裝與測試第03週:IC 封裝與Tester第04週:測試系統與靜電放電第05週:測試系統結構1第06週:春假第07週:測試系統結構2第08週:問題釋疑第09週:期中評量第10週:商用測試系統1第11週:商用測試系統2第12週:測試週邊系統1第13週:測試治具 1第14週:測試治具 2第15週:測試系統維修校正與保養1第16週:測試系統維修校正與保養2第17週:問題釋疑第18週:期末評量
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成績及評量方式 |
期中考:15%期末考:15%期末報告:20%平常考:20%平常分數(缺課逾18節本項0分):30%
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證照、國家考試及競賽關係 |
本課程無證照、國家考試及競賽資料。
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主要教材 |
1.https://honda-chen.tw(教師網頁)
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教師資料 |
教師網頁:https://honda-chen.tw
E-Mail: honda@cyut.edu.tw
Office Hour:
星期二,第5~6節,地點:M-313; 星期四,第3~4節,地點:M-313; 分機:4340、4340
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