| 學分數 |
3
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修課時數 |
3
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開課班級 |
日間部四年制3年級 A班
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| 本課程與系所培養學生核心能力關聯度 | 高度關聯 | 中高關聯 | 中度關聯 | 中低關聯 | 低度關聯 |
| 相關數學、科學及知識運用能力。 |
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✔
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| 專案或實驗之設計、執行及結果分析能力。 |
✔
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| 實務執行所需之技術與使用工具能力。 |
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✔
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| 程式撰寫或應用電路之基礎能力。 |
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✔
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| 有效溝通與團隊合作及計畫管理之能力。 |
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✔
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| 問題發掘、分析及解決能力。 |
✔
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| 專業倫理、時事議題之認知及終身學習能力。 |
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✔
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| 本課程培養學生下列知識： |
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本課程的主要目的要讓學習者瞭解積體電路的測試技術，包含以下內容：基本測試理論、各種積體電路測試特性與基本原理。課程目標為1.瞭解積體電路測試範圍與相關行業2.瞭解積體電路測試特性3.瞭解積體電路測試原理Course objective is to provide students with a comprehensive understanding of IC test technology. The course outline is as follows: Basic Test Concepts, Principles and characteristics of variable IC Tests.
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| 每週授課主題 |
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第01週：認識積體電路1(何謂 IC、特性)第02週：積體電路製造程序1第03週：積體電路製造程序2第04週：(國慶)第05週：測試生產流程1第06週：測試生產流程2第07週：積體電路測試基本概念第08週：認識測試系統第09週：期中考第10週：積體電路基本測試原理1第11週：積體電路基本測試原理2第12週：積體電路設計與測試第13週：新積體電路設計技術對測試的影響第14週：積體電路製程與產品失效第15週：先進製程與測試第16週：測試生涯規劃(證照、產業)第17週：期末考第18週：問題釋疑 (業界實務)
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| 成績及評量方式 |
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期末考：20%期中考：20%隨堂模擬測驗(平常考)：30%學習態度(含出席)：30%
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| 證照、國家考試及競賽關係 |
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本課程無證照、國家考試及競賽資料。
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| 主要教材 |
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1.自編講義(教科書)2.相關資源、講義、試卷(教師網頁)3.參考資料(iLMS數位學習系統)
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| 教師資料 |
教師網頁：http://163.17.10.78
E-Mail： honda@cyut.edu.tw
Office Hour：
星期二,第A~B節,地點:E-739;
星期三,第5~6節,地點:E-739;
分機:4340
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