朝陽科技大學
101學年度第2學期教學大綱
當期課號 2535 中文科名 積體電路測試系統
授課教師 陳宏達 開課單位 資訊工程系
學分數 3 修課時數 3 開課班級 日間部四年制4年級 A班
修習別 專業選修
類別 一般課程

本課程與系所培養學生核心能力關聯度高度
關聯
中高
關聯
中度
關聯
中低
關聯
低度
關聯
相關數學、科學及知識運用能力。
專案或實驗之設計、執行及結果分析能力。
實務執行所需之技術與使用工具能力。
程式撰寫或應用電路之基礎能力。
有效溝通與團隊合作及計畫管理之能力。
問題發掘、分析及解決能力。
專業倫理、時事議題之認知及終身學習能力。

本課程培養學生下列知識:
本課程的主要目的要讓學習者瞭解積體電路測試設備的特性與種類、基本操作原理,包含以下內容:測試系統簡介、基本測試電路、測試機結構及商用測試系統、分類機、針測機與測試治具介紹。

1.測試系統簡介
2.類比IC測試機結構及商用測試系統
3.數位IC測試機結構及商用測試系統
4.記憶體IC測試機結構及商用測試系統
5.混合訊號IC測試機結構及商用測試系統
6.分類機、針測機與測試治具

Course objective is to provide students with a comprehensive understanding of IC test equipments. The course outline is as follows: test system introduction, basic test circuits, tester architecture, commercial tester, handlers, probers, and test tools. 1.Introduction to ATE 2.Structure of Analog Tester and Commercial Testers 3.Structure of Digital Tester and Commercial Testers 4.Structure of Memory Tester and Commercial Testers 5.Structure of Mixed-Signal Tester and Commercial Testers 6.Introduction to Handler, Prober and Test Fixture

每週授課主題
第01週:測試系統簡介
第02週:類比IC測試機結構及商用測試系統 1
第03週:類比IC測試機結構及商用測試系統 2
第04週:數位IC測試機結構及商用測試系統 1
第05週:數位IC測試機結構及商用測試系統 2
第06週:記憶體IC測試機結構及商用測試系統 1
第07週:記憶體IC測試機結構及商用測試系統 2
第08週:問題釋疑
第09週:期中考
第10週:混合訊號IC測試機結構及商用測試系統 1
第11週:混合訊號IC測試機結構及商用測試系統 2
第12週:分類機、針測機與測試治具 1
第13週:分類機、針測機與測試治具 2
第14週:分類機、針測機與測試治具 3
第15週:測試治具規劃 1
第16週:測試治具規劃 2
第17週:期末口頭報報與討論
第18週:期末考

成績及評量方式
期中考:20%
期末考:20%
期末報告:20%
平常考:20%
平常分數:20%

證照、國家考試及競賽關係
本課程無證照、國家考試及競賽資料。

主要教材
1.http://163.17.10.78(教師網頁)

參考資料
本課程無參考資料!

建議先修課程
1.無

教師資料
教師網頁:http://163.17.10.78
E-Mail: honda@cyut.edu.tw
Office Hour:
星期三,第9~A節,地點:E-739;
星期四,第9~B節,地點:E-739;
分機:4340

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