朝陽科技大學 097學年度第2學期教學大綱
IC Test System 積體電路測試系統

當期課號 2692 Course Number 2692
授課教師 陳宏達 Instructor CHEN,HON DA
中文課名 積體電路測試系統 Course Name IC Test System
開課單位 資訊工程系(四日)四A Department  
修習別 選修 Required/Elective Elective
學分數 3 Credits 3
課程目標 本課程的主要目的要讓學習者瞭解積體電路測試設備的特性與種類、基本操作原理,包含以下內容:測試系統簡介、基本測試電路、測試機結構及商用測試系統、分類機、針測機與測試治具介紹。 Objectives Course objective is to provide students with a comprehensive understanding of IC test equipments. The course outline is as follows: test system introduction, basic test circuits, tester architecture, commercial tester, handlers, probers, and test tools.
教材 自編教材 Teaching Materials  
成績評量方式 1. 考試或校外實習 60%、 (含學習態度、作業、小考、專題報告)40% Grading exam. or exercise : 60%
learning attitude, homework, quiz, report..): 40%
教師網頁 http://ictest.csie.cyut.edu.tw
教學內容 1. 測試系統簡介
2. 基本測試電路
3. 類比IC測試機結構及商用測試系統
4. 數位IC測試機結構及商用測試系統
5. 記憶體IC測試機結構及商用測試系統
6. 混合訊號IC測試機結構及商用測試系統
7. 分類機、針測機與測試治具(業界師資6 hrs
8. 測試治具診斷及常見的問題
9. 測試介面電路設計 (測試成載板與探針卡
10. 測試治具訂製前文件準備及規劃 (案例演練)   
11. 高頻介面電路設計及高頻測試概念(校外師資6hrs)
12. 參訪測試設備商(分類機、針測機、測試治具、業界師資6hrs)
校外參訪實習(98學年度必須同時IC測試程式設計始有資格,並有修過積體電路測試概論、IC測試實務專題始具資格)
Syllabus Introduction to ATE
Basic Test Circuit
Structure of Analog Tester and Commercial Testers
Structure of Digital Test er and Commercial Testers
Structure of Memory Test er and Commercial Testers
Structure of Mixed-Signal Test er and Commercial Testers
Introduction to Handler, Prober and Test Fixture
Diagnostics and troubling of Test Fixture
Test Interface Circuit
Preparations of Test Fixtures
Concepts of High Frequency Circuit design and test
Experiment
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