| 當期課號 | 2741 | Course Number | 2741 |
|---|---|---|---|
| 授課教師 | 陳宏達 | Instructor | CHEN,HON DA |
| 中文課名 | 積體電路測試概論 | Course Name | Introduction to IC Testing |
| 開課單位 | 資訊工程系(四日)四A | Department | |
| 修習別 | 選修 | Required/Elective | Elective |
| 學分數 | 3 | Credits | 3 |
| 課程目標 | 本課程的主要目的要讓學習者瞭解積體電路的測試技術，包含以下內容：基本測試理論、各種積體電路測試特性與基本原理。 | Objectives | Course objective is to provide students with a comprehensive understanding of IC test technology. The course outline is as follows: Basic Test Concepts, Principles and characteristics of variable IC Tests. |
| 教材 | 自編講義 | Teaching Materials | |
| 成績評量方式 | 1. 期中考: 30% 2. 期末考30% 3. 其他: 40% (含學習態度、作業、小考、專題報告) | Grading | 1. Midterm exam. : 30% 2. Final exam. :30% 3. Others(learning attitude, homework, quiz, report..): 40% |
| 教師網頁 | http://163.17.10.78 | ||
| 教學內容 | 第一週-認識積體電路(積體電路特性) 第二週-半導體製程簡介 第三週-積體電路製程與測試失效的關係 第四週-積體電路封裝簡介 第五週-預備 第六週-直流測試原理(基本、Open/short、VO/VI量測) 第七週-數位邏輯測試概論(含測試 Pattern) 第八週-交流測試概論 第九週-期中考 第十週-DRAM 測試簡介 第十一週-Flash 測試簡介 第十二週-類比測試概論(傳統測試法) 第十三週-混和訊號測試概論(DSP Based 測試) 第十四週-積體電路測試信號處理 第十五週-高速積體電路測試概論 第十六週-測試設備概況簡介 第十七週-測試生產概況簡介 第十八週-期末考 |
Syllabus | 1. IC Test Production Operation 2. IC Test Basic 3. Analog IC Testing 4. Basic Logic Testing 5. Mixed-Signal Testing 6. Memory IC Testing (ALPG) 7. High Speed Testing 8. Product Test Verification 9. Product Development Practicle 10. Test Plan 11. Factory tour |