| 當期課號 | 2422 | Course Number | 2422 |
|---|---|---|---|
| 授課教師 | 陳宏達 | Instructor | CHEN,HON DA |
| 中文課名 | IC測試工程技術 | Course Name | IC Test Technology |
| 開課單位 | 資訊工程系(四日)三A | Department | |
| 修習別 | 選修 | Required/Elective | Elective |
| 學分數 | 3 | Credits | 3 |
| 課程目標 | 本課程的主要目的要讓學習者瞭解積體電路的測試技術，包含以下內容：測試生產操作、基本測試理論、各種積體電路測試特性與基本原理 | Objectives | Course objective is to provide students with a comprehensive understanding of IC test technology. The course outline is as follows: Test Production, Basic Test Concepts, Principles and characteristics of variable IC Tests. |
| 教材 | 自編講義 | Teaching Materials | |
| 成績評量方式 | 1. 期中考: 20% 2. 期末考20% 3. 其他: 60% (含學習態度、作業、小考、報告) | Grading | 1. Midterm exam. : 20% 2. Final exam. :20% 3. Others(learning attitude, homework, quiz, report..): 60% |
| 教師網頁 | http://ip78.csie.cyut.edu.tw | ||
| 教學內容 | <本學期課程並無參訪及業界師資授課> 1. 測試廠內測試生產操作 2. 基本測試理論 3. 類比IC測試概念 4. 數位IC測試概念 5. 混合訊號IC測試概念 6. 記憶體產品測試概念 8. 產品測試驗證 |
Syllabus | 1. IC Test Production Operation 2. IC Test Basic 3. Analog IC Testing 4. Basic Logic Testing 5. Mixed-Signal Testing 6. Memory IC Testing (ALPG) 7. High Speed Testing 8. Product Test Verification 9. Product Development Practicle 10. Test Plan |