當期課號 | 2373 | Course Number | 2373 |
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授課教師 | 陳宏達 | Instructor | CHEN,HON DA |
中文課名 | IC測試工程技術 | Course Name | IC Test Technology |
開課單位 | 資訊工程系(四日)三A | Department | |
修習別 | 選修 | Required/Elective | Elective |
學分數 | 3 | Credits | 3 |
課程目標 | 本課程的主要目的要讓學習者瞭解積體電路的測試技術,包含以下內容:測試生產操作、基本測試理論、各種積體電路測試特性與基本原理 | Objectives | Course objective is to provide students with a comprehensive understanding of IC test technology. The course outline is as follows: Test Production, Basic Test Concepts, Principles and characteristics of variable IC Tests. |
教材 | 自編講義 | Teaching Materials | |
成績評量方式 | 1. 期中考: 20% 2. 期末考20% 3. 其他: 60% (含學習態度、作業、小考、報告) | Grading | 1. Midterm exam. : 20% 2. Final exam. :20% 3. Others(learning attitude, homework, quiz, report..): 60% |
教師網頁 | http://IcTest.csie.cyut.edu.tw | ||
教學內容 | 1. 測試廠內測試生產操作 2. 基本測試理論 3. 類比IC測試原理 4. 數位IC測試原理(測試Pattern) 5. 混合訊號IC測試原理(DSP 測試原理簡介) 6. 記憶體產品測試原理(常用的Algorithmic Pattern) 7. 高速元件測試特性(外校師資 6hrs) 8. 產品測試驗證 9. 測試開發問題彙整(一些案例演練) 10. 測試規劃(案例演練) 11. 竹科企業參訪實習(測試生產、測試設備,觀摩實習2hrs)(業界師資6hrs) |
Syllabus | 1. IC Test Production Operation 2. IC Test Basic 3. Analog IC Testing 4. Basic Logic Testing 5. Mixed-Signal Testing 6. Memory IC Testing (ALPG) 7. High Speed Testing 8. Product Test Verification 9. Product Development Practicle 10. Test Plan 11. Factory tour |